Home
About Us
Service
Contact Us
Message
Chinese
English
ADVANCED Service
Non-Destructive Analysis
Destructive Analysis
Chemical Handling
FIB Service
Reliability Service
ESD/HBM/MM
Solderability Test
Grinding/Polishing Consumables
Destructive Analysis
PEM
PEM
PEM（Photon Emission Microscopy）即发光显微镜,用来捕捉电子和空穴结合时产生的光子
它可以探测以下失效形式：
栅极氧化层被击穿
内部绝缘层短路
热电子损伤
闩锁效应
静电损伤
Back>>
Copyright © 2012 ADVANCED，Technical Support：
HUICHENG
