组件充电模式 (Charged-Device Model, CDM)
此放电模式是指IC 先因磨擦或其它因素而在IC 内部累积了静电，但在静电累积的过程中IC 并未被损伤。此带有静电的IC 在处理过程中，当其pin 去碰触到接地面时，IC 内部的静电便会经由pin 自IC 内部流出来，而造成了放电的现象。

测试机台 Thermo Scientific Orion robotic Charged Device Model (CDM) tester