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u
主要用途
测试金铝线焊球黏合力、绑线拉断强度;芯片/Die黏合力;BGA焊锡球黏合力。
u
性能参数
a)
拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择;
b)
推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择;
c)
芯片推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择;
d)
镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择;
e)
BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择;
u
应用范围
适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 ,原件
与基板黏合测试
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